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電腦膜層（漆膜）測(cè)厚儀發(fā)展概述

厚度測(cè)量是涂鍍層物性檢測(cè)的重要項(xiàng)目之一，伴著新型工程材料開發(fā)，微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展，電腦膜層（漆膜）測(cè)厚技術(shù)近幾年來在國(guó)內(nèi)外得到迅速發(fā)展。與此同時(shí)，采取多種原理，應(yīng)用范圍廣泛，有較高科技含量，日趨智能化的各類電腦膜層（漆膜）測(cè)厚儀相繼問世，有力地推動(dòng)了工程物理檢測(cè)的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比，目前我國(guó)涂鍍層測(cè)厚技術(shù)在總體上相當(dāng)于*工業(yè)國(guó)家19世紀(jì)90年代初期水平，面對(duì)入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn)，我們當(dāng)奮起直追，增強(qiáng)參與競(jìng)爭(zhēng)的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識(shí)，搶抓機(jī)遇，努力實(shí)現(xiàn)測(cè)厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。

電腦膜層（漆膜）測(cè)厚儀開發(fā)日趨智能化

回顧電腦膜層（漆膜）測(cè)厚儀技術(shù)發(fā)展的歷史沿革，集中表現(xiàn)為以下技術(shù)特征：

• 電路設(shè)計(jì)：電子管—晶體管—集成電路—芯片L模塊化。
• 整機(jī)功能：?jiǎn)危ㄔ恚┕δ苄?mdash;具有部分統(tǒng)計(jì)功能型—雙原理通用型—智能型。
• 探頭制式：主機(jī)探頭分離式—主機(jī)與探頭一體式（內(nèi)置式探頭）—主機(jī)配多規(guī)格探頭（可供選擇更換）。
• 量值顯示：機(jī)械式（千分表）—表頭指針式—液晶數(shù)字式—數(shù)據(jù)打印式（外接或內(nèi)置）。

總結(jié)

在*工業(yè)國(guó)家，電腦膜層（漆膜）測(cè)厚儀技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)已自成體系，而且有多種規(guī)格的涂鍍層測(cè)厚儀可同時(shí)兼顧雙重原理，滿足多項(xiàng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)要求，因而大大地拓展其應(yīng)用領(lǐng)域。也為我國(guó)采用*技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，推動(dòng)國(guó)產(chǎn)儀器更新?lián)Q代提供了借鑒與參考。